Akkreditering til certificering af miljøledelsessystemer
Nedenfor er anført link eller henvisning til generelle og specifikke dokumenter, som er gældende for den specifikke ordning.
Generelle krav
- DANAK’s priser for akkreditering 2009
- Bekendtgørelse nr. 1136 af 15. december 2003 om akkreditering af virksomheder til certificering af personer, produkter og systemer, samt til inspektion og til miljøverifikation (EMAS).
- TF 1 DANAK’s akkrediteringsmærke og henvisning til akkreditering.
- TF 2 Tildeling og opretholdelse af akkreditering.
- TF 14 Bestemmelser for certificerings- og inspektionsorganer samt CO2-verifikatorer
Specifikke krav
- DS/EN ISO/IEC 17021:2006, 1. udg. 2006-12-05
Overensstemmelsesvurdering – Krav til organer der foretager audit og certificering af ledelsessystemer. (Købes hos Dansk Standard). - TF 16 Afgrænsning af erhvervssektorer i akkrediteringsområder for systemcertificering og miljøverifikation.
- RL 13 af 2009.03.27. Kvalifikationskrav ved miljøcertificering og miljøverifikation.
- EA-7/04 - Legal Compliance as a part of Accredited ISO 14001: 2004 certification. Legal Compliance
- EA-7/05 Guidance on the Application of ISO/IEC 17021:2006 for Combined Audits
- IAF MD 1:2007 Certification of Multiple Sites Based on Sampling
- IAF MD 2:2007 Transfer of Accredited Certification of Management Systems
- IAF MD 3:2008 Advanced Surveillance and Recertification Procedures (ASRP)
- IAF MD 4:2008 Use of Computer Assisted Auditing Techniques ("CAAT") for Accredited Certification of Management Systems
- IAF MD 5:2009 IAF Mandatory Document For Duration of QMS and EMS Audits
Tidligere anført i IAF GD2:2005, annex 3, og i IAF GD6:2006, afsnit G.5.3.5 – G.5.3.13.
Tidligere anført i IAF GD2:2005, annex 4, og i IAF GD6:2006, annex 2.
Tidligere anført i IAF GD2:2005, annex 5, og i IAF GD6:2006, annex 3.
Anvendelse af MD 3 kræver, at DANAK har bedømt og godkendt certificeringsorganets procedure herfor
Revision af AB 16 - Anvendelse af DS/EN 45011: 1998 ved akkreditering til CO2-verifikation
Nye bekendtgørelser på metrologiområdet
